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薄膜涂層測厚儀的測量原理是怎樣的?

發布時間:2022-01-12      點擊次數:279
  精譜測控薄膜涂層測厚儀可以幫助我們實現高效的厚度檢測服務,可以實現高效、無損的測量。用戶可以通過這款設備提高檢測效率和生產精度。用戶可以選擇薄膜測試儀來提高設備的檢測效率,提供給市場更加優質的產品。
  精譜測控薄膜涂層測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計;有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計;有利用渦流原理的電渦流厚度計;還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。
  精譜測控薄膜涂層測厚儀(技術方案):
  入射光在膜的上下表面發生多次反射
  反射光的強度和薄膜折射率,基底(substrate)折射率及膜厚,波長有關
  在已知折射率的情況下,根據測量出的反射光強和波長的函數,計算出膜厚
  精譜測控薄膜涂層測厚儀的功能介紹:
  1.測量鍍膜或涂布厚度,厚度范圍在10納米-100微米,準確度達到2納米或厚度0.4%,精度達到0.1納米,測量穩定性0.3納米。
  2.精確測量樣品的顏色和在380-780納米可見光范圍內的反射率曲線。
  3.測量軟件支持20層以內的物理模型,并對多個參數進行同時測量。
  4.具有折射率模型編輯擬合功能,對于100納米-幾個微米的膜,可以在折射率未知的情況下,結合軟件對膜厚,折射率參數進行同時測量。
  5.軟件具有對樣品的粗糙度,背面反射,多角度入射進行建模的功能軟件還可針對已知樣品的模型,使用不同入射角和偏振進行仿真以計算不同情況下反射率曲線。
  6.軟件還擁有近千種材料的材料數據庫,同時還支持函數型(Cauchy,Cauchy-Urbach,Sellmeier),物理光學(Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz),混合型(MaxwellGarnett,Bruggeman)EMA等折射率模型
  7.客戶還可以通過軟件自帶數據庫對材料,菜單進行管理并回溯檢查測量結果。
  8.我們還提供針對客戶在線系統的定制檢測系統。

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